EBW application for the manufacture of HEBT dipole vacuum chambers, FAIR

EBW application for the manufacture of HEBT dipole vacuum chambers, FAIR
Aleksei M. Medvedev, Alexey M. Semenov, Yuri I. Semenov, Alexandr A. Starostenko, Mikhail M. Sizov, Aleksandr S. Tcyganov

 

Cite as:

BINP (Budker Institute of Nuclear Physics, Novosibirsk, Russia) have successfully used the electron beam welding for manufacturing of vacuum chambers for a long time. The EBW facility provides the maximum seam length of 2 meters, which are achieved by using several independent launches with beam’s power up to 60 kW. Currently Budker Institute manufactures the dipole vacuum chambers for HEBT, FAIR (Germany). The dipole chambers consist of two longitudinally EBW Ushaped stainless steel profiles with the wall thickness of 6 mm or 4 mm. To eliminate the virtual leak, the welds will have the full penetration. At present time, the facility is being updated so that the maximum seam of 2 meters would be achieved with one single launch.

 

БИЯФ (Будкер институт за ядрена физика, Новосибирск, Русия) от дълго време успешно използва електроннолъчевото заваряване за изграждане на вакуумни камери. Съоръженията за електроннолъчево заваряване позволяват получаването на шев с максимална дължина от 2 метра, който е постигнат чрез използването на няколко независими пускания на лъч с мощност до 60 kW. В момента Будкер института изработва за HEBT FAIR (Германия) двуполюсна вакуум камера. Въпросната камера е изградена от два надлъжно електроннолъчево заварени У-образни профила от неръждаема стомана с дебелина на стената 6 мм или 4 мм. Използвано е пълно проникване на заварката, за да се избегнат течове. В момента протича обновяване на съоръжението, така че тази максимална дължина на заваръчният шев от 2 метра да се постига с едно единствено пускане на лъча.

 

Download PDF full text

Cite this article as:

Medvedev A. M., Semenov A. M., Semenov Y. I., Starostenko A. A., Sizov M. M., Tcyganov A. S. EBW application for the manufacture of HEBT dipole vacuum chambers, FAIR. Journal – Electrotechnica & Electronica (Е+Е), Vol. 51 (5-6), 2016, pp. 148-152, ISSN: 0861-4717 (Print), 2603-5421 (Online)

20160506-24