Electron beam characterizing and its relevance for production
Clemens Liebig, Jürgen Fath, Thorsten Löwer
Measurements of electron beam profiles always had an academic touch in the past. New standards and faster image processing make the beam characterization more and more a quality tool in production and allow transfer of beam parameters between different machines. This paper considers the latest development on using the beam diagnostic in production.
Измерванията на профилите на електронните снопове винаги са имали академично докосване в миналото. Новите стандарти и по-бързата обработка на изображения правят характеризирането на лъча все повече и повече инструмент на качеството за производство и позволяват прехвърляне на параметрите между различните машини. Тази статия разглежда най-новото развитие на използването на диагностиката на лъча в производството.
Cite this article as:
Liebig C., Fath J., Löwer T. Electron beam characterizing and its relevance for production. Journal – Electrotechnica & Electronica (Е+Е), Vol. 51 (5-6), 2016, pp. 166-169, ISSN: 0861-4717 (Print), 2603-5421 (Online)
